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日本vista光學(xué)檢漏儀SLD-100
更新日期：2024-05-12
訪問量：1170
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：
日本vista光學(xué)檢漏儀SLD-100
日本vista光學(xué)檢漏儀SLD-100
光學(xué)檢漏儀
可以使用各種搜索氣體！
?不需要昂貴且
可能耗盡的氦氣?縮短和簡(jiǎn)化了檢查時(shí)間?
不需要高級(jí)技能
?準(zhǔn)確定量泄漏量
特長(zhǎng)：
無(wú)需昂貴的，可能會(huì)耗盡的氦氣
?可以使用氬氣或大氣（氮?dú)猓┻M(jìn)行泄漏測(cè)試
檢查時(shí)間可以縮短和簡(jiǎn)化
?可以從低真空區(qū)域（約50 Pa）進(jìn)行測(cè)試
?氣體快速逸出，可以縮短檢查周期
?搜索氣體的改變是一觸式
⇒使用大氣氮?dú)鈾z查泄漏和總泄漏量后，
氬氣可以通過切換到模式來確定泄漏位置。
無(wú)需高級(jí)技能
-由于沒有吸收或滲透到彈性體中，因此可以進(jìn)行可靠的泄漏檢測(cè)。
可以準(zhǔn)確定量泄漏量
?使用標(biāo)準(zhǔn)電導(dǎo)元件達(dá)到大氣壓空氣（氮?dú)猓┑男孤?biāo)準(zhǔn)?可以
將空氣校準(zhǔn)值轉(zhuǎn)換為氬氣等
?與浸沒法相比，可以在更短的時(shí)間內(nèi)進(jìn)行可靠的定量。
當(dāng)排出各種氣體時(shí)，每種氣體都會(huì)發(fā)出自己*的光。通過測(cè)量這些光的每個(gè)波長(zhǎng)的光譜強(qiáng)度，可以測(cè)量各種氣體的分壓。從該分壓計(jì)算出每種氣體的泄漏量。
由于它可以測(cè)量光線，因此甚至可以很容易地測(cè)量低真空。
（右圖是各種氣體的發(fā)射顏色的示例。）
右圖是確認(rèn)使用已知電導(dǎo)率的元件在大氣壓空氣下進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)后，使用氬氣測(cè)量泄漏量的精度的圖表。通過在大氣中校準(zhǔn)一次，可以準(zhǔn)確測(cè)量高達(dá)10-8 Pa·m3 / s的氣體，而與氮?dú)夂蜌鍤獾?/font>氣體類型無(wú)關(guān)。
| 物品 | 規(guī)格值 |
可檢測(cè)泄漏量 | 10 -2 至10 -8 Pa ? m 3 / s |
| 工作壓力 | 約50Pa |
搜索氣 | 氬氣，空氣（N 2）等 |
| 分析方法 | 光學(xué)的 |
| 標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)器 | 標(biāo)準(zhǔn)電導(dǎo)元件 |
| 顯示/操作單元 | 手持式帶圖形顯示 |
?可以使用氬氣或大氣（氮?dú)猓┻M(jìn)行泄漏測(cè)試
檢查時(shí)間可以縮短和簡(jiǎn)化
?可以從低真空區(qū)域（約50 Pa）進(jìn)行測(cè)試
?氣體快速逸出，可以縮短檢查周期
?搜索氣體的改變是一觸式
⇒使用大氣氮?dú)鈾z查泄漏和總泄漏量后，
氬氣可以通過切換到模式來確定泄漏位置。
無(wú)需高級(jí)技能
-由于沒有吸收或滲透到彈性體中，因此可以進(jìn)行可靠的泄漏檢測(cè)。
可以準(zhǔn)確定量泄
當(dāng)排出各種氣體時(shí)，每種氣體都會(huì)發(fā)出自己*的光。通過測(cè)量這些光的每個(gè)波長(zhǎng)的光譜強(qiáng)度，可以測(cè)量各種氣體的分壓。從該分壓計(jì)算出每種氣體的泄漏量。
由于它可以測(cè)量光線，因此甚至可以很容易地測(cè)量低真空。
（右圖是各種氣體的發(fā)射顏色的示例。）
右圖是確認(rèn)使用已知電導(dǎo)率的元件在大氣壓空氣下進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)后，使用氬氣測(cè)量泄漏量的精度的圖表。通過在大氣中校準(zhǔn)一次，可以準(zhǔn)確測(cè)量高達(dá)10-8 Pa·m3 / s的氣體，而與氮?dú)夂蜌鍤獾?/font>氣體類型無(wú)關(guān)。
| 物品 | 規(guī)格值 |
可檢測(cè)泄漏量 | 10 -2 至10 -8 Pa ? m 3 / s |
| 工作壓力 | 約50Pa |
搜索氣 | 氬氣，空氣（N 2）等 |
| 分析方法 | 光學(xué)的 |
| 標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)器 | 標(biāo)準(zhǔn)電導(dǎo)元件 |
| 顯示/操作單元 | 手持式帶圖形顯示 |
